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    ED400渦流測(cè)厚儀

    供應(yīng)數(shù)量:1645

    發(fā)布日期:2025/10/15

    有效日期:2026/4/17

    原 產(chǎn) 地:沈陽天星

    已獲點(diǎn)擊:1645

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     ED400渦流測(cè)厚儀

    ED400渦流測(cè)厚儀ED300渦流測(cè)厚儀的改進(jìn)型,儀器性能大幅度提高。
          
    儀器適于測(cè)量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度,還可用于測(cè)量其它鋁材料、鋁工件表面的陽極氧化膜或涂層厚度,以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度。采用磁性測(cè)厚方法,可無損地測(cè)量磁性金屬基體(如:鋼、鐵、鎳)上非磁性覆層的厚度(如:鍍鋅、鉻、油漆、電泳、琺瑯、橡膠、粉未、搪瓷、防腐層等),本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造、金屬加工、化工、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。

          沈陽天星ED400
    適于在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)、銷售現(xiàn)場(chǎng)或施工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行快速、無損的膜厚檢查,可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。
          
    儀器符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流法》。
     儀器特點(diǎn)
          
    ED400渦流測(cè)厚儀ED300型相比,具有如下特點(diǎn):
    *量程寬   ED400量程達(dá)到0500μm。
    *精度高   ED400型的測(cè)量精度達(dá)到2%
    *分辨率高   ED400型的分辨率達(dá)到0.1μm。
    *校正簡(jiǎn)便   只校正“0”“50μm”兩點(diǎn),即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計(jì)精度。
    *探頭線壽命長(zhǎng)   采用德國(guó)進(jìn)口的,在德國(guó)測(cè)厚儀上使用的探頭線,探頭線壽命可大大延長(zhǎng)。
    *探頭芯壽命長(zhǎng)   采用高強(qiáng)度磁芯材料,微調(diào)了探頭設(shè)計(jì),探頭芯壽命可大大延長(zhǎng)。
    *探頭可互換   外接式探頭,探頭損壞后,使用者可自行更換備用探頭。儀器無需返廠維修。
    *基體導(dǎo)電率影響小 基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時(shí),測(cè)量誤差不大于12μm。
    *可靠性提高 采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件,電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化,儀器可靠性提高。
    *穩(wěn)定性提高 采用*溫度補(bǔ)償技術(shù),測(cè)量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)長(zhǎng)期使用。
    ED400渦流測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
    測(cè)量范圍:
         0500μm
    測(cè)量精度:     050μm±1μm;
                        50
    500μm±2%
    率:     050μm0.1μm、
                        50
    500μm1μm;
                        0
    500μm1μm(可選)
    使用溫度:     545
    外形尺寸:     150mm×80mm×30mm
          量:     260g
    ED400渦流測(cè)厚儀配置與選配
    ED400標(biāo)準(zhǔn)配置
    主機(jī) 1臺(tái)
    探頭 1
    基體 1(6063合金
    校正箔片 150μm,附檢測(cè)報(bào)告
    使用說明書 1
    合格證 1
    保修單 1
    手提式儀器箱1個(gè)
    可選附件
    備用探頭
    基體
    校正箔片50μm,附檢測(cè)報(bào)告
     
    影響的一些可能因素:
    基體金屬磁性質(zhì)
    磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
    基體金屬電性質(zhì)
    基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)進(jìn)行校準(zhǔn)。
    基體金屬厚度
    每一種都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。
    曲率
    試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。
              

     

    
    

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